南川 明

1982年武蔵工業大学電気工学科卒業、米モトローラ入社。90年ガートナージャパン データクエスト半導体産業分析部シニアアナリスト。IDC Japan、West LB証券、クレディ・リヨネ証券を経て、04年データ・ガレージ設立。19年英Informaへ統合されOmdiaブランドで活動。電子情報技術産業協会（JEITA）では10年間にわたり、世界の電子機器と半導体中長期展望委員会の中心アナリストとして従事。定期的に台湾主催の半導体シンポジウムで講演を行うなど、アジアでの調査・コンサルティングを強化。特許庁の自動車用特許の技術審査委員、半導体関連特許審査委員。NEDOの「FeRAM製造技術の開発」研究評価委員。