今岡 仁

NECフェロー。1997年NEC入社。脳視覚情報処理の研究開発の後、2002年に顔認証技術の研究開発を開始。世界70カ国以上での生体認証製品の事業化に貢献するとともに、NIST（米国国立標準技術研究所）の顔認証ベンチマークテストで世界No.1評価を6回獲得。令和4年度科学技術分野の文部科学大臣表彰「科学技術賞（開発部門）」受賞。令和5年春の褒章「紫綬褒章」受章。